产品介绍
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产品寿命周期依赖于产品质量。而产品质量需通过理化检测或无损检测来验证。相对于高成本的理化检测，无损检测就显得极具经济。传统的无损检测方法包括射线检测胶片法、超声检测、涡流检测、磁粉检测和渗透检测，这些方法已经在工业领域应用了四十多年。随着技术的发展，从传统检测方法演变而成的新的检测方法进一步降低检测成本，提高检测速度，确保产品质量。
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数字化射线检测技术对产品检测过程产生了巨大的影响，由于数字化成像技术能够降低所需辐射能量及曝光时间，使得该技术明显地降低成本、节省时间。该技术采用计算机系统、直接成像探测器或可重复使用的数字成像板来替代X射线胶片、暗室处理过程以及传统的底片存档。
CIT 公司致力于数字化射线检测系统的研发、生产已有二十多年时间，市场覆盖全球不同工业领域，并可根据ASNT或EN标准为客户提供相关培训。CIT还是欧洲标准化委员会、美国无损检测学会及英国无损检测学会成员单位。其客户遍布全球，如英国BNFL、德国空军、加拿大（AECL）、韩国KEPRI等。并与 DURR NDT， ICM， TWI，Panasonic、HP等专业协会或公司建立长期合作伙伴关系。
CIT公司的主要产品包括数字化射线成像系统，底片数字化系统，射线剂量计，双丝像质计，专门用于数字化成像质量控制的测试板以及专业的射线检测模拟软件等数字化成像的相关产品。
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