产品介绍
基本功能
1，测试导电薄膜方块电阻及其厚度，基板厚度；
2，测试光透过率（380、532、632、1032nm等）
测试技术
涡流探测感应技术、超声技术
平台尺寸
16英寸/400mm×400mm
基板材质
金属薄片、玻璃、硅片等等
面阻精度范围
l 0.001-10Ω/□，精度小于2%
l 10-100Ω/□，精度小于3%
l 100-1000Ω/□，精度小于5%
感应距离
2/5/10mm，取决于样品实际厚度
薄膜厚度测试
1nm-500um，取决于面阻及其薄膜电阻率
机台尺寸
760×310×660mm
重量
20kG
分析软件
Sheet Resistance Analyzer 2.0
应用领域
l 建筑玻璃
l 包装材料
l 触摸屏及平板显示
l LED/OLED以及智能玻璃
l 半导体
l 其他导电镀膜领域
其他
可手动进行扫描多点测试
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