产品介绍
XDL膜厚测试仪简单介绍
可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图 像观测。
自由距离测量DIM：更灵活地测量不规则样品（凹凸）。
一体机工作站式设计，简化设备安装， 减少占用空间。
技术参数:元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；
最多同时15种元素定量
X射线激发: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）
X射线检测: 高分辨封气 (Xe)正比计数器，灵敏度高，可最多装备3种二次滤光片
准直器: 单准直器或多准直器系统，准直器系统最多可安装4种规格的准直器，备有各种规 格准直器（0.015mm-0.5mm)圆形或矩形供客户选用
XDL膜厚测试仪的特征
1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
镀金膜厚测试仪的应用领域：
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析
联系人：王生：13316557996
电话：0755-29371655
传真：0755-29371653
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