产品介绍
膜厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪能够测量极精密的样品,如:微形部件或线路板上极微细的表面结构,它的新颖专利X-射线光学镜片,创新的X-射线光学原理,使这部仪器能产生非常小,但高辐射强度的测量点,所以,测量数十微米的面积的结构也变成可能。配备了半导体接收器适合测量薄到数NM的镀层.膜厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪极适合对一些较小的样板进行测量,尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、珠宝,连接器,一些电气产品中的小五金零件等等,操作员只需将测试面朝下,不论大小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便可立即测量,这不单可以令测量更快速,还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。 膜厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!
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