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上海艾测电子科技有限公司
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激光扫描显微镜
原子力显微镜(Atomic force microscopy)是一种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表
面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描,探针固定在对
探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后
发生位移。检测器接受反射光,最后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
计算机全数字化控制,操作简捷直观。
步进马达自动进行针尖--样品逼近,保证实验圆满成功。
深度陡度测量,三维显示。
激光扫描显微镜
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域.
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
样品观测范围从0.001um-20000um。
扫描速度达40000点/秒
可选配纳米刻蚀功能模块。
激光扫描显微镜
STM探头
样品尺寸:厚度小等于15mm。
XY最大扫描范围:标准6X6微米
可选3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm
Z向分辨率:0.01nm(HOPG定标)
XY二维样品移动范围:5mm
激光扫描显微镜
样品-针尖白光照明
步进马达自动进行针尖-样品逼近(自动保护针尖)
全金属屏蔽防震隔音箱(选配)
精密隔震平台(选配)
激光扫描显微镜
电子学控制器: |
|
XYZ控制 |
18-Bit D/A |
数据采样 |
14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 |
Z向反馈 |
DSP数字反馈 |
反馈采样速率 |
64.0KHz |
高压放大器 |
集成高压运算放大器,最大电压范围+/-150V |
激光扫描显微镜
频率范围 |
--- |
幅度范围 |
--- |
扫描速率 |
21Hz |
扫描角度 |
0-360度连续可调 |
扫描偏移 |
任意 |
图像采样点 |
256X256或512X512 |
步进马达控制 |
手动和自动进退 |
计算机接口 |
标准RS232串行/USB |