产品介绍
小型•操作简便
充分考虑作业现场内的使用环境,占地空间小,方便操作。
可测量倍率(1×、2.5×)测定倍率扩大到2.5×,可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15(可选件)的孔径转换器组合匹配使用的话,可最大扩大10倍。(平面测定时)
参照镜片λ/20 高精度
因为本社加工技术,参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要,也可提供λ/30 的产品。
丰富的附属备件群
我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置(KIF-FSPC/FS2000),可进行高精度条纹解析。
测定方法 |
斐佐型干涉方式 |
口径 |
φ60(使用可选件为φ6-φ102)mm |
被检物大小 |
φ6-φ102(平面测定时)mm |
倍率 |
1×、2.5×(本体2 段切换) 4×、10×(使用φ60-φ15的孔径转换器时) |
参照面精度 |
λ/20(球面以及平面) |
光源 |
he-ne(632.8nm)激光 |
电源 |
ac100v 50/60hz |
本体外形尺寸 |
220(w)×360(d)×740(h)mm |
本体重量 |
约33kg |
标准附属品 |
9型tv显示器、5轴调整受台 |
使用在生产制造显微镜•光学拾波等过程中培育的小口径测量技术,开发而来的使用简单小型干涉仪。
在光电通信、摄影设备、情报机器等的光学素子领域,可进行高精度测量。
同时在为保证质量而进行的测量活动以及制造现场内的工位内检测方面发挥着巨大的威力。
主要用途:
1. 镜片研磨面的面精度的测定。
2. 塑料成型件的面精度的测定。
3. 各种金属切削面的面精度的测定。