产品介绍
HiperS-320i 全焦面影像校正光栅光谱仪
卓立汉光开发的新一代全焦面影像校正光谱仪， 采用全焦面非对称影像校正技术，大程度的抑制多种光学像差，获得了理想的成像效果，从而提升了光谱仪的信号强度和分辨率水平。同时使光谱仪在宽波 段范围内全焦面都拥有极小的像差，整个像面上都呈现出理想的影像效果，大幅度拓展光谱分析的应用领域，可被用于空间分辨的实验，实现多通道实时探测，提升光谱测试分析质量。
HiperS-320i 全焦面影像校正光栅光谱仪功能及特点：
注：9 芯光纤束 /100um 芯径，成像面高度 3.8mm
光栅在轴旋转光栅利用率提高 15%。（1200g/mm 光栅，波长 550nm 位置）
HiperS-320i 全焦面影像校正光栅光谱仪 规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
HiperS-320i 全焦面影像校正光栅光谱仪 规格参数表@不同光栅
注1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长435.83nm，狭缝宽度10um；
注2：CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长减小，倒线色散数值增大；
注4：直入狭缝无法配置电动狭缝。
典型型号表
注 1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）。
注 2：本型号系列，需要额外选配光栅，可配置 3 块光栅。
注 3：本型号系列，不包含滤光片轮、快门，需要额外选择附件。
光谱仪HiperS-3208i外形尺寸图：
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