产品介绍
OSP涂层厚度测量仪
产品简介 ? ST4080-OSP 非接触、非损坏、精确的OSP镀层厚度测量 操作快捷、简单，无需样品制备工序 直接在线检测实际产品 自动绘制OSP镀层厚度三维分布指示图 自动测试平均厚度 ST4080-OSP介绍 ST4080-OSP仪器通过进行PCB／PWB上OSP镀层厚度的完整性、可靠性及膜层形态的定量分析，进而检测OSP镀层的应用可靠性。 实时无损检测PCB／PWB上OSP镀层厚度。 在OSP镀层表面864×648μm的测试区域内同时独立测量单个面积为1.35μm×1.35μm区域的OSP镀层厚度。 在OSP镀层表面86.4×64.8μm的测试区域内同时独立测量单个面积为0.135μm×0.135μm区域的OSP镀层厚度。 检测分析的镀层厚度范围在0.035－3μm。 绘制OSP镀层厚度三维分布图。 可在PCB板上选定特定区域针对OSP镀层厚度进行有效的质量监控、失效分析以改善镀层质量。 光谱范围：420nm－640nm 自动测试平均厚度 ST4080-OSP检测原理 ST4080-OSP仪器通过分析可见光谱中不同波长的光谱分别在铜箔表面和OSP镀层表面上反射后形成的新的关于波长的数据信息来测量OSP镀层的厚度。从OSP镀层表面反射的光线与从基层铜箔表面反射的光线相互干涉从而形成新的干涉图谱。该图谱会形成与光强相关的振幅曲线，ST4080-OSP仪器通过分析该曲线的振幅和频率以确定OSP镀层厚度和完整性。 ST4080-OSP的特点 在OSP镀层表面864×648μm的测试区域，同时独立测量单个面积为1.35μm×1.35μm区域的OSP镀层厚度。 在OSP镀层表面86.4×64.8μm的测试区域，同时独立测量单个面积为0.135μm×0.135μm区域的OSP镀层厚度。 OSP镀层的实际附着情况可以通过三维厚度分布图进行清晰显示。 实时检测实际产品上OSP镀层厚度，无需样品制备工序。 ST4080-OSP仪器测量技术对接受测试的PCB／PWB产品没有任何不利、破坏影响。 可在PCB／PWB产品生命周期的不同阶段进行检测，以监控OSP镀层在生产和储存过程中可能产生的不良变化。 ST4080-OSP仪器可实时检测PCB／PWB上OSP镀层厚度和质量。
此仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!
多年来，我们一直致力于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！联系人：王明 13316557996 QQ 17084971 FAX:0755-23493351 深圳市宝安区宝安大道盐田商务广场A座421室
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