产品介绍
PHYNIXSurfix分体式测厚仪
型号：(B)FN,(B)F,(B)N 产地：德国
特点：世界最新科技，手机外形，最小测面积菜单操作，
分辨率0.1µm，两类基体自动识别
量程：0-1500µm，0-60mils，
90°直角探头九种规格，统计值在线显示
可选型号：
Surfix (B)FN 型适合测量金属基体上的
涂镀层、氧化膜等。
Surfix (B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。
Surfix (B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。
技术参数：
测量范围 ： 0-1500µm,0 - 60mils
误 差： 1µm或1%读数
分 辨 率： 0.1µm或<测量读值的2%
显 示： 背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南
基体最小面积： 5mmX5mm
基体最小曲率： 凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体最小厚度： F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准 厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计（仅限统计型）：
读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值
数据存储（仅限统计型）：
最多200个测量数值,可单独调出
数据值（仅限统计型）：
上下限可调,声音报警
数据接口 ：红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度 ： 0-50℃/150℃
电源 ： 2节1.5伏AA碱性干电池
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