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什么是SIR/CAF?

SIR(Surface Insulation Resistance)：表面绝缘阻抗，通常用来作电路板的信赖性试验

CAF(Conductive Anodic Filament)：是导电性阳极丝，是PCB内部的Cu离子沿着玻纤的微裂通道或接口部位，从阳极向阴极方向生长而形成导电性细丝物的现象，是PCB内部铜离子从阳极(高电压)沿着玻纤丝间的微裂通道，向阴极(低电压)迁移过程中发生的铜与铜盐的漏电行为。当 PCB/PCBA在高温高湿的环境下带电工作时，两绝缘导体间可能会产生严重的沿着树脂或玻纤界面生长的CAF，此现象将最终导致绝缘不良甚至短路失效。

CAF测试原理:

　　在HAST设定的老化环境下，在被测样品的正负电极施加一个电源正负极的电压，通过一定的时间内连续对产品测试后的绝缘阻值变化测量的一个过程(可以从电阻值的变化上知道试验开始初期阶段以来测试所产生的差异、以及到发生故障时电阻值发生了紊乱等信息)，以此来评估产品的可靠性。绝缘电阻的测试原理是对被测物体施加一个恒定直流电压，再测量出该被测物中流过的电流，根据欧姆定律换算出绝缘电阻阻值。