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HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

高压加速老化试验箱采用最新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

符合国际规范的三项控制模式：

满足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 规范要求

3种控制模式包含：不饱和控制（干湿球温度控制）、不饱和控制（升温温度控制）、湿润饱和控制。

符合规范单槽结构设计：

 IEC60068-2-66、JESDEC A110、A118 

产品特点：

1.HAST高压加速老化试验机采用较新优化设计,美观大方，做工精细。

2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水，试验不中断。

4.与试样数量相吻合的试样信号施加端了。

5.采用彩式触摸屏，拥有多段程序，具有USB曲线数据下载功能，通讯接口。

6.采用高效真空泵，使箱内达到较佳纯净饱和蒸汽状态。

7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。

9.可根据客户不同需求定制专用HAST试验设备(如: HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需要)