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易科泰样芯分析技术:“μXRF+高光谱成像”高通量样芯分析技术

来宝网 2021/8/30点击1053次

易科泰样芯分析技术:μXRF+高光谱成像”高通量样芯分析技术

 

易科泰生态技术公司推出高通量μXRF +高光谱成像样芯分析技术方案,可对岩矿样芯、海洋湖泊沉积样芯进行高通量XRF扫描分析元素分布、X光扫描成像密度分析(选配,用于沉积样芯等)、高通量高光谱成像分析(包括可见光近红外、短波红外、中波红外及长波红外不同波段高光谱成像)。

 

XRF Core Scanner 结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)、数字X-射线密度成像(Digital x-ray micro radiography)和高分辨率数字光学成像技术,实现多种样芯的非接触式测量,用于土壤、土芯、海洋或湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度和元素分析,可直接对钻芯进行扫描,无需复杂的前处理和样品制备,节约宝贵时间和费用,单次扫描即可获得多种元素(Mg U)浓度数据,在保证精度的前提下2分钟便可获得1米样芯的元素浓度及分布信息,每年可连续工作几千小时。

   

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XRF Scanner MC/SC 元素扫描分析系统针对高通量岩矿分析检测设计,可安装于采矿现场作业车上,用于单样芯或多样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析,100秒即可完成1米样芯的元素浓度(Na - U)及分布信息。


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高光谱样芯扫描分析可配备RGB成像、VISNIR成像、SWIR成像、LWIR高光谱成像,其中SisuROCK全自动岩矿样芯高光谱成像分析工作站为多样芯同步扫描成像,完成一盒钻芯样品扫描仅需15秒(样品最大长度1500毫米),可对岩矿样芯中的碳酸盐、硅酸盐、石英、长石、铁矿等多种成分进行扫描分析。


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应用案例:新西兰怀卡托大学理学院的Barker等人为了克服短波红外(SWIR)难以应对矿物中细沙成分(如石英和长石)带来的低反射率和无法有效识别问题,利用μXRF+长波红外(LWIR)高光谱成像技术对内华达州一处卡林型金矿进行了研究,由于岩芯总长2030米,因此选择扫描速度和精度俱佳的SisuROCK全自动岩矿样芯高光谱成像分析工作站进行采集,这种高光谱结合μXRF识别矿物的方法无需破译混合像元中的光谱变量,也无需为地质领域单独生成光谱库,可广泛应用于多种矿床类型,在节约宝贵时间的同时极大的提高了光谱数据分析速度和准确性,详见2020年《Economic Geology》(Quantitative Mineral Mapping of Drill Core Surfaces II: Long-Wave Infrared Mineral Characterization Using μXRF and Machine Learning)。

 

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上图左为岩芯RGB图像,5个彩色圆点为高光谱成像取点位置;上图中为VN-SWIR高光谱曲线,无法有效区分矿物成分;上图右为LWIR高光谱曲线,从该图中可以非常明显的看出特征峰之间的差异



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