来宝网 2010/4/21点击2720次
STD-A陶瓷介质损耗角正切
及介电常数测试仪
使
用
说
明
书
湘 潭 华 丰 仪 器 制 造 有 限 公 司
地址：湖南湘潭市雨湖区车站路136号 邮编:411100
电话：0731-58235998 58267996 13607325732
传真：0731-58235998
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STD-A陶瓷介质损耗角正切及介电常数测试仪
一、概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。
二、仪器的技术指标
1．频率范围及刻度误差
范围：50KHz~50MHz共分七个波段
1.1：50~150KHz
1.2：150~450KHz
1.3：450~1500KHz
1.4：1.5~4.5MHz
1.5：4.5~12MHz
1.6：12~25MHz
1.7：25~50MHz
允许误差：+2%
2．Q值测量范围及误差
范围：5~500
误差：1）当频率从5~25KHz
量程5~50 +5%
量程15~150 +5%
量程50~500 +7%
2）当频率从25~50MHz，所有量程均为+10%
3）△Q范围：-25 ~ 0 ~ +25。
3．电感测量范围及误差
范围：0.1μH~100mH
误差：+5%+0.01μH
4．试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时）
Φ25~35mm（ε=12~30时）
Φ15~20mm（ε>30时）
三、实验步骤：
1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压是否合适，最好采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。
2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。
3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。
4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。
5．“△Q零点调节”旋钮使Q表指向表头中间零点。
6．“Q量程”开关扳回500档。
7．将被测样品接在“CX”接线柱上。
8．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，“Q量程”扳向△Q位置，可以直接读出△Q，并且Q2= Q1－△Q，将Q表量程扳回500档。
9．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据，再取其平均值）。
四、实验结果
1．tanδ和ε测定记录
实验数据按表1要求填写。
表1 tanδ和ε测定记录表
|
试样名称 |
|
测定人 |
|
测定时间 |
|
||||||
|
试样处理 |
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||||||||||
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编号 |
C1 |
C2 |
C |
d |
ψ |
δ |
Q1 |
△Q |
Q2 |
tanδ |
QX |
|
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2．计算
Cd Φ2
1）介电常数ε
ε=
式中：C---试样的电容量（PF）, C= C1－C2；
d---试样厚度（cm）；
Φ—试样直径（cm）。
C1 △Q C1 Q1－Q2 C1－C2 －C2 Q1* Q2Q1* Q2 C1
2）介质损耗角正切tanδ
tanδ= * = *
1 Q1Q2 C1－C2 tanδ Q1－Q2 C1
3) Q值
Q = = *
五、注意事项
1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。
2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。
3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。
4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。
5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡，“本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应最小，而无大变化。
