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铜箔测厚仪(CHY-CA改款型)技术资料

来宝网 2011/6/14点击1507次

CHY-CA改款型测厚仪,可用于铜箔厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足铜箔对厚度高精度测试的要求;同时测试幅面宽度可以达到400mm,完全满足铜箔整个幅面厚度测试的要求。CHY-CA改款型测厚仪除了具备高精度、高效率等特点外,还采用测量样品自动前进驱动系统,大大提高了测试效率,充分满足用户连续高效测试的要求,并配有专业软件支持,操作方便、人机交互友好。

功能原理
CHY-CA改款型测厚仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果,确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;并具有手动、自动两种测量模式,对于手动模式测量,可打印输出测量结果,对于自动模式测量,可按照预先设置好的次数自动测试,并对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

 

技术指标
测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000mm
进样速度:0.1~99.9mm/s


如欲了解更详细信息,欢迎致电济南兰光机电技术有限公司(0531-85068566)垂询。

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