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产品关键词：测厚仪|单晶硅片测厚仪|单晶硅片厚度检测仪器|单晶硅片厚度测量仪器|单晶硅片厚度测试仪

CHY-CA改款型测厚仪，是Labthink兰光在原有CHY-CA测厚仪的基础上更新升级的一款测厚仪，可适用于太阳能行业、电子行业等检测试样幅面较宽的测试要求。

1、 结构组成
试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。
2、 功能原理
本试验仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度一致性；且操作调试极其方便，几近于自动化操作，最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响；并具有手动、自动两种测量模式，对于手动模式测量，可打印输出测量结果，对于自动模式测量，可按照预先设置好的次数自动测试，并对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

如欲了解更详细信息，欢迎致电济南兰光机电技术有限公司0531-85068566垂询。